电子产品高加速寿命试验方法
引言高加速寿命试验(HALT：HighlyAcceleratedLifeTest)技术是目前国际上比较流行的可靠性试验技术，它的优点是根据被测产品的自身特点及产品的使用环境，由研发人员设定出适合该产品的试验参数，从而提高了试验效率。HALT试验尤其适用于使用PCB板的电子产品。1、试验目的及工作原理1.1试验目的传统的可靠性试验及环境适应性试验并不能确定产品工作极限条件，而HALT试验通过不断修改试验参数，由记录表来确定产品的操作极限和破坏极限。试验中不断增加的应力远大于正常使用条件的环境应力，使得产品的...
更新时间：2022-08-17标签： 高压加速老化 全文阅读